Neues Rasterelektronenmikroskop (REM) am IGCV
Am Fraunhofer IGCV steht ab sofort ein neues Rasterelektronenmikroskop (REM) mit integrierter energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) zur Verfügung. Damit erweitern wir unsere Möglichkeiten zur mikrostrukturellen und chemischen Analyse deutlich.
Das neue REM ermöglicht unter anderem:
- hochauflösende Bruchflächenanalysen von Zugproben zur detaillierten Bewertung von Versagensmechanismen
- die Untersuchung der Vermischungszonen in Verbundgussproben, um Grenzflächenqualität und Werkstoffverbund gezielt zu beurteilen
- Sand- und Binderanalysen zur Optimierung von Formstoffsystemen in Gießereiprozessen
- die Analyse von Düsen beim Molten Metal Jetting, insbesondere zur Identifikation und Charakterisierung von Anhaftungen und Ablagerungen
Durch die deutlich bessere Auflösung und Tiefenschärfe gegenüber konventionellen Methoden können selbst feinste Strukturen und lokale chemische Zusammensetzungen präzise erfasst werden. Damit schaffen wir die Grundlage für eine noch gezieltere Prozessoptimierung, Fehleranalyse und Werkstoffentwicklung in industrienahen Anwendungen.
